MAP: 波長スイープ・テストシステム (mSWS)
現在地

MAP: 波長スイープ・テストシステム (mSWS)

パッシブなDWDMデバイス、ROADMと回路パックの製造と新しいデバイス開発のためのテストソリューションを提供します。波長依存性能の完全特性評価を提供します。

概要

MAP-200マルチ・アプリケーション・プラットフォーム用波長スイープ・テストシステム (mSWS)は、DWDMデバイスの挿入損失(IL)、偏光依存損失(PDL)、リターンロス(RL)、および指向性を測定する業界標準ソリューションの継続的提供を続けます。

それは次世代DWDMデバイスの研究開発(R&D)と生産環境の両方にて要求される高い波長分解能光学性能テストを提供します。"OMNI Expansion"によって、グループ遅延(GD)と差動グループ遅延が追加され、SWSシステムは40Gと100Gシステムのためのコンポーネントの完全な理想的検証を提供します。

現在、SWSテストシステムは100以上のカストマ・サイトで9000を超える検出器チャンネルを導入し、ROADM、波長スイッチ、チューナブル・フィルタ、および回路パック等を含む最新の光コンポーネントやモジュールのテスト/検証を行っています。SWSシステムはチューナブル・レーザー光源、光源モジュール、レシーバ・シャーシ、制御モジュール、ディテクタ・モジュールおよびアプリケーション・ソフトウェアにて構成されます。

特徴

  • 性能を犠牲にせずに製造におけるスループット向上を 2倍に: 光源波長スイープ・テストシステム(mSWS)は最大スイープ・スピードにおける性能を維持しながら、多ポートCDC(colorless, directionless, contentionless) ROADMの完全特性評価を可能にします。
  • テスト・ステーションのフットプリントを半減し、運用費用の最小化: mSWSの各ディスクタ・モジュールは4入力(従来は2)あり、最大で1ステーションあたり最大 256 のディテクタ・チャネルが使用可能です(従来は128)。
  • 業界で最も費用効果が高いソリューションによってテストステーションの追加の最小化: mSWSは1チューナブル・レーザ出力にて、最大で8までのテスト・ステーション構成が可能です

アプリケーション

  • R&D および製造環境での光学部品およびモジュールのキャラクタライゼーション
  • ROADM、波長スイッチ、波長ブロッカ
  • 回路パック
  • 波長分割多重 (DWDM/ CWDM)
  • チューナブル・フィルタ、カプラ、スプリッタ、スイッチ、減衰器、ファイバ・グレーティング (FBG)、インタリーバ、ダイクロイック・フィルタ
  • マイクロ・エレクトロ・メカニカル・システム (MEMS) および導波路デバイス

主要機能

  • スケーラブルなアーキテクチャ - 必要に応じて最大8つの測定ステーシュン構成
  • ± 0.002 nm の絶対波長確度
  • テーションあたり最大 256 のディテクタ・チャネルを使用可能
  • 最大 40 nm/s の高速スキャン (ユーザーが制御可能)
  • 柔軟で使いやすいソフトウェア
  •  
  • ダイナミック・リンク・ライブラリ (DLL) を通じてカスタマイズされたアプリケーション

安全情報

CE 要件と UL3101.1 および CAN/CSA - C22.2 No. 1010.1 に準拠しています。光源モジュール (SWS20010) のレーザー光源はクラス 1 です。チューナブル・レーザー光源 (SWS17101) はクラス 3B レーザーです。これらは共に IEC 規格 60825-1(202) に基づいて分類されており、Laser Notice No. 50 (2001 年 7 月) の例外事項を除く 21CFR1040.10 に準拠しています。

ダウンロード