MAP PCT(IL/RLテストモジュール)
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MAP PCT(IL/RLテストモジュール)

VIAVI の最先端MAP-200 プラットフォームに対応したシングルモード挿入損失/リターン減衰量メータと EF 完全対応マルチモード挿入損失テストモジュール。

概要

光接続ソリューション(光コネクタ、 構造化ケーブル配線、 スプリッター、ケース用エンクロージャーなど)は、接続が不可欠の中央オフィス、データセンター、光配線ネットワークの中心となるものです。 テレコム、データコム、ワイヤレス・バックホール、FTTx以外にも新しいスーパーコンピューティング・アプリケーション用の用途が出現し、同時に商用以外のアプリケーションも増加しています。 このような市場は、より広帯域化への需要により牽引されています。 その必要性に対応するため、設置費用が少なく、即座に実装できる新しいコネクタが市場に投入されています。

ただし、これらの接続ポイントにおける信号品質と光性能はしばしば見過ごされます。 挿入損失(IL)、リターン減衰量(RL)が悪いと、ネットワーク性能に大きな影響を与えます。 性能が劣化すれば、信頼性に直接影響が及び、テクノロジー・アップグレード(例: 10G -> 40G)を妨げることにもつながります。 同時に、メーカーから、コスト削減、生産速度の加速、市場投入の短縮化といった経済的な要因も求められます。

VIAVIパッシブ・コンポーネント/コネクタ・テスト・ソリューション(PCT)は、挿入損失、反射減衰量、ケーブル物理長、光接続製品の偏波テストを行うためのモジュール、ソフトウェア、周辺機器等を取り揃えています。 VIAVI MAP-200プラットフォームのモジュールと接続性能を活用することにより、PCT(シングルモードファイバからOM1及びOM4まで)の、研究&開発、生産、品質テスト用に構成できます。

利点

  • 生産量を4倍に拡大
  • 1/4の設置スペース(当社比)
  • 40/100 Gデータセンター市場などの新規高成長、高性能アプリケーションのテスト要求に対応
  • モジュール構成でニーズと予算に柔軟に対応
  • ポートマッピングは15秒未満でマルチファイバーMPOカセット連続性と偏波を検証します。
  • 高成長市場のMPO と MTP マルチファイバコネクタのテスト要求を完全サポート

アプリケーション

  • 光コネクタのIL/RL/長さ、ケーブル・アセンブリ、構造化ケーブル配線ソリューション、光スプリッタのテスト実施
  • マルチファイバ・アセンブリ(MPOなど)の自動テスト
  • シングルモードおよびマルチモードファイバで構成されたデバイスのためのソリューション
  • 大規模マルチファイバ・アセンブリの接続性と偏波の検証
  • ラインカード及びレセプタクルベースのトランスポンダの反射減衰量(RL)測定

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