MAP光スイッチソリューション(mOSW-C1/mlSW-C1)
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MAP光スイッチソリューション(mOSW-C1/mlSW-C1)

業界最先端のVIAVI光スイッチ技術を採用した第四世代の計器クラスを基盤に構築された光スイッチソリューション

概要

製造テストの自動化は製造コストの削減に極めて重要で、光スイッチは自動テストシステムの中核を成しています。 VIAVI mOSW-C1光スイッチモジュールとmISW光スイッチトレイは、業界最先端のVIAVI光スイッチ技術を採用した第四世代の計器クラスを基盤に構築されています。 VIAVIはネットワーク、モニタリング、製造などの各種分野で30年以上にわたって光スイッチの業界をリードしてきました。mOSW-C1/mISW-C1は、パフォーマンスと信頼性に加え、業界最小のフットプリントで新たな標準を確立します.

大型の固定式19インチラックマウントシステムでしか得られなかったパフォーマンスと再現性が、初めてモジュール式プラグインやトレイでも実現できるようになりました。 製造エンジニアは今後、テストシステムのサイズとパフォーマンスの間で選択を迫られることがなくなります。 mOSW-C1/mISW-C1を利用すると、スイッチシステムのサイズを最大75%縮小できる一方で、はるかに大きい従来型システム以上のパフォーマンスが得られます。 接続負荷の大きいアーキテクチャでは、スイッチ速度が50%早くなりテスト時間が大幅に減少します。

これらのスイッチはMAP-200ファミリーの構成部品です。 このシリーズは業界最大規模の光学モジュールを取りそろえ、光学産業分野で最も人気の高い自動製造テストソリューションです。 これには、パッシブ部品、トランスポンダ、ラインカードなども含まれます。 複雑な自動化アーキテクチャで、リモートVNC、イーサネット、GPIB、またはローカルGUIを使用した高度な接続機能を備えたMAP-200が人気を集める理由は、遠隔地にある製造拠点のデバッグ作業が大幅に簡易化されるところにあります。

利点

  • データ速度や伝送形式に左右されることなく、あらゆる光スイッチに対応
  • 1x2から1x176までの全構成でスイッチサイズにかかわらず低損失、測定ダイナミックレンジへの影響も最小化
  • フレキシブルなSCPIリモートインターフェイスよって、ユーザーはMAP-200形式のコマンドを使用して、業界標準のSB/SCシリーズ光スイッチとのプログラム互換を維持しながら、プログラムが可能
  • 単入力バージョンの測定値の不確実性を最小限に抑えるため、超低水準の0.04 dB PDLと±0.005 dBの再現性を保証
  • 新しいPTRIMオプションによってトラブルシューティングが容易になり、接続ポートでプログラム可能な部分的損失を、最大20 dBのインラインパワーまで測定可能
  • 1C、2D(デュプレックス)、2Eの入力構成によって必要なスイッチ数を減らすコスト削減アーキテクチャを使用可能
  • 拡張型ビーム技術によって、マルチモードのスイッチを「形式上透明化」してモードの配分を妨げないようにして伝送テストやIEC互換モード起動を使用したテストを大幅に簡略化

用途

  • -マルチポートコンポーネント、モジュール、ラインカード用のテストシステム自動化
  • 製造における複雑なテストシーケンスを管理
  • MAP-200 mORL-A1モジュールとの併用でマルチファイバーコネクタをテスト
  • 長期にわたる信頼性をテスト

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