MAP 扫频波长测试系统
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MAP 扫频波长测试系统

无源 DWDM 设备、ROADMs & Circuit Packs 的制造和新设备开发的测试解决方案。 详细描述与波长相关的性能

概述

新的基于 MAP-200 的扫描波长测试系统 (mSWS) 系列体现了 VIAVI 测量插入损耗 (IL)、偏振相关损耗 (PDL)、回波损耗 (RL) 和 DWDM 设备方向性行业标准解决方案的继续改进。

它提供了在新一代 DWDM 设备的研发 (R&D) 和生产环境中进行高波长分辨率测试所需的光学性能。

SWS 测试平台目前已在 100 多个站点中使用,部署了 9000 多个检测器通道,可验证最新光学组件和模块的光学性能,其中包括: ROADMs、波长开关、可调滤波器和电路组。 SWS 系统包括一个可调激光源、一个源光学模块 (SOM)、一个控制模块、一个接收器底座、一个或多个检测器模块和应用软件。

优点

  • 提高生产力的同时不会损害性能 – 两倍速度: mSWS 能够充分完全测试多端口 CDC ROADM的特性,并且其速度是其它解决方案的两倍,在最大限度提高扫描速度的同时保持指标不变。
  • 将测试站的占地面积减少一半,最大限度降低运营开支:mSWS 使各测试模块中的功率计数量翻倍。
  • 可提供行业最具成本效益的解决方案,从而最大限度减少增加测试站所需的资本支出:mSWS 有助于通过多达八个测试站快速扩大生产规模,这些测试站可由一个分布式可调谐激光发射器提供支持…

应用

  • 光学组件和模块在制造、产品研发环境中的特性描述
  • ROADMs、波长开关、波长阻断器、
  • 电路组
  • 密集波分复用 (DWDM)、粗波分复用 (CWDM)
  • 可调滤波器、耦合器、分路器、开关、衰减器、光纤光栅 (FBGs)、交错器、双色滤光器
  • 微电子机械系统 (MEMS) 和波导元件

主要特性

  • 可扩缩结构– 一个 TLS/ SOM 发射站共 8 个可支持测量站,最多可添加 7 个测量站
  • ± 0.002 nm 绝对波长精度
  • 每个测量站最多可配备 256 个检测器通道
  • 速度高达 40 nm/s 的高速扫描(用户可控制)
  • 动态连接库可提供灵活易用的软件和自定义应用 (DLLs)

安全信息

符合 CE 要求以及 UL3101.1 和 CAN/CSA - C22.2 No. 1010.1。 源光学模块 (SWS20010) 中的激光源为 1 类。 可调谐激光源(SWS17101 和 SWS18101)为 3B 类激光。 两者均根据 IEC 标准 60825-1(202) 进行分类并且符合 21CFR1040.10 规定(根据 Laser Notice No. 50, July 2001 出现的偏差除外)。