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光连接器和无源器件测试

  • 单模插入损耗/回波损耗测试仪,完全 EF 兼容的多模插入损耗测试模块,用于 Viavi 先进的 MAP-200 平台。
  • 无源 DWDM 设备、ROADMs & Circuit Packs 的制造和新设备开发的测试解决方案。 详细描述与波长相关的性能
  • 集成的自动化测试设备,用于测试光学元件在温度/湿度试验箱内、受到环境压力条件下的长期可靠性。