LightTest Soluitons

IL 和 RL 测试

用于光学制造的插入损耗 (IL) 和回波损耗 (RL) 测试解决方案。

业界领先的基于 MAP 系列的无源连接器测试 (PCT) 系统。

产品

MAP PCT IL and RL Test Modules (mORL-A1

MAP PCT 插入损耗 (IL) 和回波损耗 (RL) 测试模块 (mORL)

单模插入损耗/回波损耗测试仪和完全符合 EF 标准的多模插入损耗测试模块可在 VIAVI 高级 MAP 系列平台上使用。
Single Fiber Insertion Loss & Return Loss System

单光纤插入损耗和回波损耗系统 (mOLM)

PCT-rm 是一种基于 MAP-220 的插入损耗 (IL) 和回波损耗 (RL) 解决方案,主要针对实验室和制造中单个光纤连接器的应用。

每一阶段的支持

我们提供您所需的支持、服务、全面培训以及资源。这只是我们为最大程度提升您投资的价值所作努力的一部分。

为您的 VIAVI 系统解决方案和仪器产品组合锦上添花并构成总拥有成本的增值服务

针对维修和校准提供换货许可 (RMA) 的客户服务

面向使用新产品或现有工具的技术人员的技术教育解决方案、产品培训以及混合式学习

技术支持中心可帮助您使用/配置产品,或解决产品性能相关问题

咨询专家

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