MAP PCT(IL 和 RL 测试模块)
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MAP PCT(IL 和 RL 测试模块)

单模插入损耗/回波损耗测试仪,完全 EF 兼容的多模插入损耗测试模块,用于 Viavi 先进的 MAP-200 平台。

概述

光学连接解决方案(光连接器、结构化布线、分光器和外面的外壳)是连接密集的中央办公室、数据中心和光配送网络的核心。除电信、数据通信、无线回程和 FTTx 外,新的超级计算机应用也随着不断增长的航海、航空和军事应用而出现。所有这些市场都对带宽有着更高的需求。出于市场缺口,新的连接器因应低安装成本和快速部署等需求而涌现。

但这些连接点的质量和光学性能却经常被忽视。较差的插入和回波损耗(IL 和 RL)会对网络性能产生长期严重的影响。性能差会直接影响传送率、可靠性,甚至会妨碍技术升级。同时,经济因素要求制造商继续降低成本、加速生产并加快上市时间。

Viavi 无源器件/连接器测试解决方案 (PCT) 由一组功能强大的模块、软件和外围设备组成,可测试光连接产品的插入损耗、回波损耗、物理长度以及极性。PCT 的杠杆作用调节 Viavi MAP-200 平台的模块性和连通性,且其可配置用来研发、生产或鉴定测试环境,并可通过 OM1 和 OM4 处于所有主要的单模光纤类型。

优势

  • 产品收得率提高 4 倍
  • 占用空间仅为其他方案的 25%
  • 可进一步扩展至新的高成长、高性能应用,如 40/100 G 数据中心市场
  • 模块平台可在有需要且预算允许的情况下扩展
  • 端口映射验证多光纤 MPO 卡带的连续性和极性只需不到 15 秒
  • 完全支持高成长 MPO 和 MTP 多光纤连接器

应用

  • 测试光连接器和电缆组件的 IL/RL/长度,结构化布线解决方案,以及光分路器
  • 自动化多光纤组件测试,如 MPO
  • 单模和多模两种光纤装置的解决方案
  • 验证大型多光纤组件的连续性和极性
  • 测量线路卡的 RL 和使用插座的转调器