ONT CFP8 Modul

400G-Testmodul für die Plattform ONT-800

Das Modul 400G CFP8 ist eine skalierbare Testlösung auf Grundlage des neuesten Standards für 400G und 200G Ethernet (IEEE 802.3 bs) und bereit für OTUCn. Es besitzt einen CFP8-Slot für die erste Generation von 400G-Steckmodulen und unterstützt über Adapter die neuen QSFP-DD- und OSFP-Steckmodule. Bereitstellung von FlexE- und FlexO-Anwendungen über 5 x QSFP28-Slots.

Das Modul 400G CFP8 ist die jüngste Erweiterung der Produktfamilie ONT-400 von VIAVI und berücksichtigt die in Zukunft benötigte höhere Datenrate und Genauigkeit. Diese skalierbare Testlösung gewährleistet das vollständige Ökosystem des Entwicklungszyklus vom Chip zum System. Sie basiert auf dem neuesten Standard für 400G/200G Ethernet (IEEE 802.3 bs) und besitzt einen CFP8-Schacht für die erste Generation von 400G-Steckmodulen. Elektrische Adapter ermöglichen den direkten Anschluss an 400G-Evaluation-Boards über 16 x 25G NRZ oder 8 x 50G PAM-4.

Die umfassenden Anwendungen des Moduls ermöglichen eine detaillierte Fehlerdiagnose mit lückenlosen Einblicken in die MAC/IP-Layer anhand von praxisnahen Signalen. Darüber hinaus helfen eine erweiterte Fehleranalyse und dynamische Skew-Tests, Störungen auf der physikalischen Layer umgehend zu erkennen und zu analysieren.

Angesichts der steigenden Nachfrage nach immer höheren Datenraten und einer besseren Zuverlässigkeit hilft das Modul 400G, sich auf die kommenden OTUCn-Tests vorzubereiten. Es unterstützt FlexE- und FlexO-Anwendungen über QSFP28-Standardanschlüsse. Zudem folgt das FPGA-basierte Design den sich entwickelnden Standards und lässt das Modul 400G CFP8 von VIAVI zu einer intelligenten Investition in die Zukunft werden.


Vorteile

  • Testen der Signalintegrität von 400GE und 200GE.
  • Testen von CFP8-Transpondern (16 x 25G NRZ).
  • Testen von QSFP-DD- und OSFP-Transpondern (8 x 50G PAM-4).
  • Zugriff auf das Evaluation Board über PAM-4- und NRZ-Adapter.
  • Testen der physikalischen Layer, von PCS/FEC, Ethernet und OTN.

Vorteile

  • Umfassende Anwendungen zur Fehlerdiagnose von der physikalischen Layer bis 400GE/OTUC4.
  • Zukunftssicheres Design, bereit für tiefgehende FlexE/FlexO-Tests.

Anwendungen

  • Test und Fehlerdiagnose für 400G/200G
  • Testen von Transpondern
  • Validierung von integrierten Schaltkreisen (IC)
  • Systemintegration 

Leistungsmerkmale

  • Testen von 400GE und 200GE bei voller Bandbreite
  • CFP8-Steckplatz mit optionalen elektrischen Schnittstellen
  • Testen der PCS/FEC-Layer
  • Dynamische Skew-Einfügung (NRZ)
  • Zugriff auf die MDIO-Steuerschnittstelle

Und so geht es

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