光通信テクノロジーのコンパクトでコスト効果の高い開発と製造に最適化された第 3 世代光テストおよび測定システム。
光デバイスやサブシステムの開発および製造分野の光テストスイッチングとシグナル調整に、コスト効果が高くフレキシブルでコンパクトなプラットフォームを提供します。
チューナブルレーザー、SLED、LEDS、DFB、ブロードバンドなど、お客様の最も要求の厳しい光学仕様を満たす幅広い光源を提供します。EDFA とそのクラス初の O バンドアプリケーション用ビスマスドープアンプを搭載しています。
アナログシステムから次世代高速ネットワークのまでのテスト用に、VIAVI は実績のある光アッテネータ、チューナブル波長フィルター、偏波コントローラー、可変後方反射器モジュールの 包括的なファミリーを提供しています。
業界トップの第 4 世代 VIAVI テクノロジーをベースに構築された光スイッチソリューションには、最大 176 ポートのマトリクススイッチ、1XN、2XN など、複数の形式があります。VIAVI は、カプラー、スプリッター、Mux/Demux モジュール、バンドパスフィルターなどのパッシブ光デバイスも提供しています。
VIAVI は、波長や性能グレードを問わず、あらゆるテストニーズに対応できるパワーメーター、高分解能と高速性の両方を備えた光スペクトラムアナライザなど、パワーとスペクトラムの測定に関するあらゆるニーズに対応できます。
パッシブなDWDMデバイス、ROADMと回路パックの製造と新しいデバイス開発のためのテストソリューションを提供します。波長依存性能の完全特性評価を提供します。
光コンポーネントの長期自動化信頼性試験とチャンバーを使用しての温度/湿度環境ストレス・テストの統合
VIAVI の高度な MAP シリーズ プラットフォームで使用するためのシングルモード挿入損失/反射損失テストメーターおよび EF に完全準拠のマルチモード挿入損失テストモジュール
PCT-rm は、ラボと製造でのシングルファイバーコネクターアプリケーションを対象とする MAP-220 ベースの挿入損失(IL)および反射損失(RL)に対するソリューションです。
ラボおよび製造アプリケーション向けの高性能検査ソリューション
MPO やトランシーバーなどのプラガブルデバイスをはじめとする多芯コネクター向け「オールインワン」ベンチトップ型検査および解析ソリューション
非常に優れた照明の柔軟性と完全に自動化された二重対物レンズの性能により、比類のない精度、効率および再現性を実現します。
自動ファイバ検査&分析プローブは、デスクトップコンピュータ、ノートパソコン、モバイル機器、VIAVIテストソリューションに合否機能を提供します。
次世代光ファイバー端面クリーニングシステム
VIAVI's DORC automated interferometers and inspection equipment measures the surface topography of single fiber...
単芯コネクターと多芯コネクターの自動検査と解析
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VIAVIは、サポート、サービス、総合的なトレーニング、お客様が必要とするリソースを提供しています。これはすべて、お客様のVIAVIへの投資価値を最大化するために当社が日頃より行っていることです。
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